硅基光开关切换延时线芯片延时测量稳定性研究数据集

本数据集中的论文是基于OVNA延时测试方法对延时测试链路、片上参考直波导、片上光开关切换延时线的延时稳定性进行对比测试，并结合透射光谱，对影响片上延时测量稳定性的因素进行研究。利用可调谐激光器、多通道光功率计、多通道可编程电压源、矢量网络分析仪进行数据采集,采用Origin软件对采集数据做图获得论文中的相关实验结果图片。数据量为：1.72MB。