Secom

该数据集是一个包含缺失值的高维数据集，用于验证我们提出的对抗过采样方法。该数据集中确实存在的缺失值通过KNN插补方法进行填充。它是一个大规模的数据集，适用于多类别分类任务。

This high-dimensional dataset contains missing values and is employed to validate the adversarial oversampling method we proposed. The naturally occurring missing values in this dataset are imputed via the KNN imputation technique. It is a large-scale dataset suitable for multi-class classification tasks.

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

SECOM数据集是一个半导体制造过程的多变量数据集，包含1567个样本和591个实值特征，用于分类和因果发现任务。数据包含缺失值，旨在通过特征选择技术识别对产品良率影响最大的关键信号。