测量或纠缠对相邻不同种类比特的串扰率数据

测量或纠缠对相邻不同种类比特的串扰率数据，面向双重量子比特体系中测量操作对相邻异种量子比特串扰的评估与验证需求建设，由清华大学在171Yb+多离子阱量子计算实验平台上采集产生，对应国家重点研发计划项目考核指标“测量或纠缠对相邻不同种类比特的串扰率<1%”。该数据集以基态能级与亚稳态能级分别编码S-量子比特与F-量子比特，通过411 nm与3432 nm双色激光实现两者之间的相干转移；在将F-量子比特制备至6种不同初态的条件下，对相邻S-量子比特重复执行0～200次（步长20）“冷却—初始化—测量”操作，测量F-量子比特末态与初态之间的保真度，进而拟合得到单次测量操作对相邻异种比特的串扰错误率，可为多量子比特寻址方案与串扰抑制技术的研究与优化提供实验依据。数据集主要记录了各实验批次、各输入态、各操作次数下的时序扫描荧光计数，以及保真度随操作次数变化的实验数据与拟合曲线等观测值，并包含数据处理MATLAB代码与结果图表，实测串扰错误率约为10^-5量级。数据量约130 MB，文件格式为.txt、.m、.mat、.fig、.pdf与.xlsx。