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test of the structural resolution for perovskite thin films

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DataCite Commons2024-07-26 更新2025-04-15 收录
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https://doi.esrf.fr/10.15151/ESRF-ES-1749473504
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the aim of the test is to use low intensity (non-destructive) mode to ptobe crystal structure and texture of ferroelectric thin films with perovskite -type structure
创建时间:
2024-07-26
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