Thin Oxide Film Ellipsometry for ML Applications
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资源简介：
A series of over 13,000 measurements taken with an FS-1 ellipsometer, and the parameters of a multi-oscillator model found using Gaussian Regression. Intended for use in material discovery.
提供机构：
Federated Research Data Repository / dépôt fédéré de données de recherche
创建时间：
2023-09-19
