超薄Bi2O3纳米片

本数据集包括：测定样品形貌的透射电子显微镜（TEM），具体，将样品均匀分散于乙醇溶液后滴加于300目C支持膜铜网上。自然挥发干燥后120℃烘干~30分钟。样品在透射电镜JEOL 2010-TEM进行测试。操作电压为200 k。图像采集保留时间为10 ms每像素。采集分辨率为78 pm。样品为纳米片状，尺寸约几百纳米。测定元素成分的光电子能谱（XPS），通过对不同样品先处理后转移测试中心，对Bi，O元素的键能信息测试，价态信息测试以及价带的测试（由理化测试中心XPS负责老师测试。数据分析经由本实验室老师同学与合作课题组资深专家确认。）测定样品物相的X-射线衍射（XRD），少量粉末样品置于X射线衍射专用硅板，均匀压平之后测试其物相。样品光电流测试，展示了富氧空位样品比少氧空位样品具有更高的光电流。