TSM Interface Matrix 2D-Halbleiter/Dielektrikum-Grenzflächen v1.2 - Public-Data-Calibrated Screening with TSM Prediction Layer

Dieser Zenodo-Datensatz enthält die TSM Interface Matrix für 2D-Halbleiter/Dielektrikum-Grenzflächen, Version 1.2. Das Paket ist ein angewandtes Folgeartefakt zur TSM-PSE-Tiefenintegration und überträgt die TSM-orientierte Rollenlogik von Elementen und Materialien auf konkrete 2D-Halbleiter-Gate-Stack-Grenzflächen. Die zentrale Datei ist eine Excel-Arbeitsmappe, die 2D-Halbleiter/Dielektrikum-Paarungen anhand einer Kombination aus Proxy-Logik, öffentlicher Teilkalibrierung, szenariospezifischen Top-50-Rankings und einem separaten spekulativen TSM-Vorhersageblatt auswertet. Die Mappe unterscheidet ausdrücklich zwischen Proxy-Werten, Materialdatenbank-Ankern, literaturbasierten Device-/Interface-Werten und noch nicht validierten Hypothesenfeldern. Das Paket ist keine validierte experimentelle Interface-Datenbank und ersetzt weder Halbleiterphysik, Device Engineering, DFT-Interface-Rechnungen noch empirische Gate-Stack-Charakterisierung. Es versteht sich als exploratives Screening-, Dokumentations- und Hypothesenwerkzeug. Das beigefügte Handbuch erläutert den methodischen Status der Mappe, die Rolle öffentlicher Daten, die Datenqualitätsstufen, die Leselogik der Ranking-Szenarien sowie die spekulativen TSM-Vorhersagen. Besonderer Wert wird auf die Trennung zwischen fachlicher Material-/Device-Logik und TSM-spezifischer Interpretation gelegt. Bestandteile:- TSM_Interface_Matrix_2D_Halbleiter_v1_2_Corrected_TSM_Predictions.xlsx- Handbuch_TSM_Interface_Matrix_2D_Halbleiter_v1_2.docx Die Arbeit wurde mit KI-Unterstützung bei Strukturierung, Tabellenaufbau, sprachlicher Ausarbeitung und Konsistenzprüfung erstellt. Die konzeptuelle Auswahl, Interpretation und Veröffentlichungsverantwortung liegen bei der menschlichen Autorin.