Surface-Topography Challenge_Sample A33
收藏DataCite Commons2025-04-28 更新2025-05-10 收录
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资源简介：
Tapping and contact mode AFM images with different scan sizes on the respective sample A33 (smoother surface-CrN deposited on a prime-grade polished silicon wafer).
提供机构：
contact.engineering
创建时间：
2025-04-28
