多型号晶圆温度均匀性工艺验证数据集
收藏安徽省数据知识产权登记平台2026-01-29 更新2026-02-27 收录
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资源简介:
数据来源:本数据集为自行设计生产。数据来源于在严格模拟实际工艺配方的环境条件下,使用自研的监测软件与高精度传感系统,在涂胶显影机热处理单元上对不同型号晶圆进行系统性测试所得;
数据构成:由测试元数据(设备、条件、内容、台号、型号)、原始数据(设定温度、最低温度、最高温度)、分析结果数据(平均温度、稳定后3σ百分比/值、稳定后Range百分比/值)和可视化图样数据组成。
提供机构:
合肥开悦半导体科技有限公司
创建时间:
2026-01-29
搜集汇总
数据集介绍

背景与挑战
背景概述
该数据集专注于多型号晶圆在涂胶显影机热处理单元中的温度均匀性工艺验证,通过模拟实际工艺条件并使用高精度传感系统进行系统性测试,确保了数据的真实性和可靠性。数据集结构完整,包括测试元数据、原始温度数据、分析结果(如平均温度和稳定后的统计指标)以及可视化图样,为晶圆制造工艺的优化和质量控制提供了全面的支持。
以上内容由遇见数据集搜集并总结生成



