Neutron tests of 16-nm technology node IC designs

B2FIND2026-04-25 收录

集成电路辐射测试

单粒子效应评估

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https://b2find.eudat.eu/dataset/46224b5a-4f48-5095-a28b-ba04e6811d03 数据链接链接失效反馈

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This test will be part of commissioning program for ChipIR facility. We plan to use multiple boards with custom designed test ICs to evaluate single-event performance of FF and...

本测试将作为ChipIR装置调试项目的组成部分。我们计划采用多块搭载定制设计的测试集成电路（IC）的电路板，以评估触发器（Flip-Flop，简称FF）的单粒子性能及……

Neutron tests of 16-nm technology node IC designs

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