Valeo Anomaly Dataset (VAD)
收藏资源简介:
VAD数据集的所有图像均从实际生产线捕获,展示了从非常明显到极其微妙的各种缺陷。该数据集弥合了学术界和工业界之间的差距,为研究人员提供了提升方法性能以应对更复杂的现实世界挑战的机会。
All images in the VAD dataset are captured from actual production lines, showcasing a range of defects from very obvious to extremely subtle. This dataset bridges the gap between academia and industry, providing researchers with the opportunity to enhance method performance to tackle more complex real-world challenges.
Valeo Anomaly Dataset (VAD)
数据集概述
- 来源:VAD数据集中的所有图像均来自实际生产线,展示了从明显到极其微妙的多种缺陷。
- 目的:旨在连接学术界与工业界,为研究人员提供机会,以提升处理复杂现实世界挑战的方法性能。
数据结构
shell vad |-- test |-----|--bad |-----|--bad_unseen_defects |-----|--good |-- train |-----|--bad |-----|--good |-- low_shot_train.json
数据详情
- 训练集:包含1000张缺陷图像和2000张正常图像。
- 测试集:包含1000张缺陷图像,其中165张为未见过的缺陷类型,以及1000张正常图像。
- 缺陷类型:包含超过20种缺陷类型,详细信息见论文附录C。
许可证
VAD数据集遵循CC BY-NC-SA 4.0许可证。
引用信息
若使用此数据集,请引用以下论文:
@misc{baitieva2024supervised, title={Supervised Anomaly Detection for Complex Industrial Images}, author={Aimira Baitieva and David Hurych and Victor Besnier and Olivier Bernard}, year={2024}, eprint={2405.04953}, archivePrefix={arXiv}, primaryClass={cs.CV} }




