有机基团构象影响二维钙钛矿电荷迁移率构效关系的测量数据集

数据内容：本数据针对课题二中关键科学问题“如何精确表征有机/无机复合纳米材料界面、电子/空穴传输层界面分子结构与界面激发态过程，提炼其影响光电化学转换效率等性能的基本规律”，围绕光转换材料结构如何调控其性能这一问题，结合光泵浦-太赫兹探测光谱、荧光光谱仪、和频光谱、暗电流-电压曲线测量、X射线衍射(XRD)、紫外-可见吸收光谱等多种手段，揭示了有机基团构象如何影响有机-无机二维钙钛矿电荷迁移率的构效关系。
采集方案：1）利用光泵浦-太赫兹探测光谱系统测量二维钙钛矿载流子迁移率，光泵浦-太赫兹探测光谱激发光波长为400nm，激发光强度从16 μJ•cm-2到73.6 μJ•cm-2变化。2）荧光光谱仪(爱丁堡公司，FLS920)测量二维钙钛矿温度依赖的稳态荧光发射光谱，用激发波长为400 nm的脉冲氙灯来激发钙钛矿薄膜，使用液氮冷却的低温系统（牛津仪器公司）并与温度控制系统（Mercury ITC）一起来进行温度依赖荧光光谱的测量，瞬态荧光光谱的激光光源为皮秒脉冲激光器（Superk Extreme）。3）利用和频光谱系统测量二维钙钛矿有机基团构象,采用近全反射几何构型。另外，为了避免溶剂DMF对二维杂化卤素钙钛矿甲基信号的干扰，采用氘代DMF作为溶剂，用高灵敏度EMCCD（Andor Newton 970）采集和频信号，所有和频光谱实验都在常温下进行。4）利用暗电流-电压曲线（吉时利电流源表）测量ITO/二维钙钛矿/Al器件的面外载流子迁移率。用X射线衍射(Philips X'Pert Pro Super diffractometer)测量二维钙钛矿层间距。用原子力显微镜（Dimensional Icon, Bruker公司）来确定不同烷基链长的二维杂化卤素钙钛矿的表面粗糙度。紫外可见吸收光谱在紫外可见吸收光谱仪(日本Shimadzu公司，波长范围：200 nm ≤ λ≤ 800 nm，Δλ= 1nm)上测量。数据体量为25MB。