基于深度学习的泛在信息泄漏分析设备测试数据集
收藏国家基础学科公共科学数据中心2026-04-25 收录
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基于深度学习的泛在信息泄漏分析设备测试数据集本数据集用于进行对基于深度学习的泛在信息泄漏分析设备的验证，为AES-256算法在Atmel ATMega-163智能卡上执行时同步采集的能量迹，以及对应的明文、密钥和密文信息。原始数据直接下载自 DPA Contest v4 官方归档库，后经过截取检查，只保留一段高信噪比数据，数据集体量为22.47MB。
提供机构：
深圳市纽创信安科技开发有限公司
