X-Ray Fluorescence and Reflectography Data from Forschungsbibliothek Gotha Ms...
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XRF (Elio: 40kV, 80 µA, spot measurements of 120s each) and reflectography (DinoLite: x50 magnification for spots on ink and pigment, vis, NIR and UV light) analysis...
X射线荧光光谱分析（XRF）：采用Elio设备，参数设置为40kV、80μA，单次点位测量时长为120秒；反射成像分析：采用DinoLite设备，针对油墨与颜料点位采用50倍放大倍率，覆盖可见光（vis）、近红外（NIR）及紫外（UV）波段……
