Characterization of capacitors at low temperature using cryo-X-ray microtomography
收藏DataCite Commons2024-12-10 更新2025-04-15 收录
下载链接：
https://doi.esrf.fr/10.15151/ESRF-ES-2004248150
下载链接
链接失效反馈官方服务：
资源简介：
We characterize the structural changes in tantalum, multilayer and Al2O3 capacitors at liquid nitrogen temperature.
提供机构：
European Synchrotron Radiation Facility
创建时间：
2024-12-10
