Site incorporation of Cu in SbSe thin films
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https://doi.esrf.fr/10.15151/ESRF-ES-2035689737
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资源简介：
Inthis experiment XAS at the Cu-K edge will be used in order to elucidate the incorporation site of Cu dopants in SbSe thin films
提供机构：
European Synchrotron Radiation Facility
创建时间：
2025-02-06
