НОВЫЕ МЕТОДЫ ПРЕЦИЗИОННЫХ ИЗМЕРЕНИЙ ЭЛЕКТРОННЫХ ДИФРАКЦИОННЫХ КАРТИН

Электронная дифрактометрия один из основных методов получения экспериментальной информации о структуре и свойствах кристаллов. Несмотря на то, что этот метод, использующий в качестве детектора излучения фотоэлектронный умножитель (ФЭУ) в сочетании со сцинтиллятором 1 был успешно применен для определения наноструктур минералов: брусита, лизардита, лепидокрокита, селадонита, накрита 26, существуют серьезные факторы, ограничивающие его широкое использование, а именно: несмотря на высокую чувствительность, важный недостаток ФЭУ нелинейный характер проходящего сигнала даже если он не превышает 1013 1012 А (это результат действия так называемого мертвого времени для таких устройств) низкая скорость измерения: это как правило 23 часа на измерение 100 рефлексов использование электронных дифрактометров ограничено вследствие того, что они адаптированы к электронографам (или электроннодифракционным камерам) и их не устанавливали на просвечивающих электронных микроскопах. Между тем, поперечные размеры пучка в электроннодифракционной камере находятся в диапазоне 0.1 0.5 мм, что делает невозможным изучение отдельных нанокристаллов. Из сказанного выше вытекает, что улучшение точности электронографического структурного анализа кристаллов требует прецизионного определения интенсивностей электронной дифракции и связанной с этим модернизации электронной дифрактометрической системы.