ChipIr commercial access: IROC Technologies

B2FIND2026-04-25 收录

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https://b2find.eudat.eu/dataset/331877cd-73ba-519d-ac79-eb60bc2973ae

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资源简介：

Integrated Circuits will be tested at ChipIr beam line to reproduce errors induced by terrestrial radiation effects from fast neutrons.Radiation effects tests are part of the...

将在ChipIr束线（ChipIr beam line）对集成电路（Integrated Circuits）开展测试，以复现由地面辐射效应中的快中子所诱发的错误。辐射效应测试是……的组成部分。