表面增强载样芯片近场扫描实验数据
收藏国家基础学科公共科学数据中心2026-01-30 收录
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https://nbsdc.cn/general/dataDetail?id=688f42a7195d260d84ac3846&type=1
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资源简介：
本数据集旨在记录星型表面增强载样芯片的近场扫描实验数据。为了测试项目中表面增强芯片的表面增强因子，使用近场扫描光学显微镜（SNOM）进行近场扫描测试。其光源设置为6.48微米波长的线偏振激光。在6 μm × 6 μm范围内扫描测量200 × 200个像素点处与其电场强度成正比的数值。本数据集能够有效支撑课题中对于表面增强因子指标的考核。数据量为16.50MB。
提供机构：
北京航空航天大学
