光开关插入损耗原始数据

薄膜铌酸锂光开关是光电子集成关键组件之一，面向光通信等应用需求，实现特定波长信号选通功能。该器件的插入损耗的测试方法为：波长可调激光器通过偏振控制器入射至片上，经过片上光开关传输后通过可扫谱功率计记录器件Thru端和Drop端的传输光谱，将器件传输光谱与背靠背传输光谱相减，即可得到器件的插入损耗，数据量为个3传输光谱。

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背景与挑战

背景概述

该数据集记录了薄膜铌酸锂光开关的插入损耗原始测试数据，通过波长可调激光器、偏振控制器和可扫谱功率计获取器件Thru端和Drop端的传输光谱，并与背靠背传输光谱相减得到插入损耗。数据包含3个传输光谱文件，共计5个文件、3.79MB，适用于光通信和集成光学研究。