神经形态芯片的MRAM器件数据保持时间与MRAM器件擦写寿命

包含神经形态芯片MRAM器件低/高阻态下热稳定性系数测试结果、MRAM芯片晶圆阵列各加速电压下读写次数失效分布测试数据、MRAM器件数据保持时间与MRAM器件擦写寿命数据。该数据集记录了神经形态芯片MRAM器件低/高阻态下热稳定性系数测试结果、MRAM芯片晶圆阵列各加速电压下读写次数失效分布测试数据、MRAM器件数据保持时间与MRAM器件擦写寿命数据以及这几项测试数据的测试流程，测试方法与计算公式。