RIXS and XMCD measurements on CrPS4
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https://doi.esrf.fr/10.15151/ESRF-ES-2053143952
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资源简介：
High-resolution RIXS measurements combined with XMCD measurements on the van der Waals semiconductor bulk material CrPS₄.
提供机构：
ESRF, 71 avenue des Martyrs, CS 40220, 38043 Grenoble Cedex 9, France
创建时间：
2028-01-01
