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<p>Fitted charge-transfer resistance R<sub>ct</sub> of sensors exposed to 250 nM TET at different time points.</p>

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NIAID Data Ecosystem2026-05-10 收录
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资源简介:

Fitted charge-transfer resistance Rct of sensors exposed to 250 nM TET at different time points.

创建时间:
2026-02-27
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