低温模型与PDK文件
收藏国家基础学科公共科学数据中心2026-01-30 收录
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资源简介：
本数据集是基于4.2K低温条件下设计的模型结构，在55nm体硅工艺流片后进行常温和低温的建模曲线测试，提取数据并完成低温模型、低温PDK、标准单元库文件，是后续存储器设计的根基，也为本项目提供了研究基础。
提供机构：
上海微系统与信息技术研究所
