铌酸锂单晶薄膜的周期极化实验数据集

本数据集主要针对周期极化薄膜铌酸锂的周期、占空比等关键指标进行采集。通过有检测资质的第三方检测机构，使用原子力显微镜对铁电畴的极化翻转情况、周期、正负畴宽度进行测量。经过检测测量，光学超晶格的极化周期为1μm，翻转畴宽度为496±18nm，占空比为49.5%±2%；通过检测数据的报告，推得超晶格的制备精度为40nm。本测试提供第三方检测报告一份，检测结果表明，满足课题一的指标1.2对应技术指标：铌酸锂光学超晶格参数；光学超晶格最小极化周期1μm，精度达到100nm。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

本数据集记录了周期极化薄膜铌酸锂的周期、占空比等关键指标的测量结果，数据通过原子力显微镜对铁电畴进行检测获得。数据集显示光学超晶格的极化周期为1μm，翻转畴宽度为496±18nm，占空比为49.5%±2%，并推算出超晶格的制备精度为40nm，满足相关技术指标要求。