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硅基模式复用解复用器件测试原始数据

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国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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https://www.nbsdc.cn/general/dataDetail?id=64edc7dbbb16e07753c34eb1&type=1
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资源简介:
随着信息爆炸式增长,5G与大数据时代的到来,光通信和光互连面临超大容量信息复用和处理的挑战,光子的新维度探索和多维度融合是光通信可持续扩容的关键,利用光子空间维度的空分复用技术为应对新容量危机提供了新途径。本数据集从模式复用角度入手,研究了片上模式复用技术,基于光学耦合平台和测试设备,记录TE0-2/TM0-2的模式损耗和串扰,数据量为125 MB。
提供机构:
西南交通大学
搜集汇总
数据集介绍
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背景与挑战
背景概述
该数据集面向光通信容量扩展需求,聚焦于硅基片上模式复用技术的研究。它通过测试记录了TE0-2和TM0-2模式下的损耗与串扰等关键性能参数,数据总量为125 MB。
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