WM-300K+ wafer map [Single & Mixed]
收藏kaggle2023-11-04 更新2024-03-07 收录
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资源简介：
Wafer Maps Dataset for Single and Mixed defects patterns
面向单一与混合缺陷图案的晶圆图（Wafer Maps）数据集
创建时间：
2023-11-04
搜集汇总
数据集介绍
背景与挑战
背景概述
该数据集是一个包含427,539个晶圆图的清洗平衡数据集，用于单种和混合缺陷模式的分类任务。输入为56x56的RGB图像张量，输出为36种缺陷类别的独热编码，涵盖包括中心、环形、边缘等多种缺陷类型。
以上内容由遇见数据集搜集并总结生成
