电路板切片孔铜厚度检测归一化数据集

本数据集是面向电路板生产质量检测场景，针对孔铜厚度检测需求采集并完成归一化处理的专项数据集合，共包含 60 个不同型号的电路板切片样本，完整记录各样本 A、B、C、D、E、F 六个孔位的铜厚度实测值（单位：μm）、六个孔位铜厚度平均值（单位：μm），并基于最大最小值归一化法完成孔铜厚度平均值的归一化计算，得到 0-1 区间的归一化值以及孔铜厚度分级，实现了从离散检测数据到可直接用于质量决策的标准化数据资产的智力加工与创新转化，可有效解决传统检测仅依赖绝对值、缺乏横向对比标准的问题，为质量合格率统计、优秀产品筛选等工业化应用提供坚实数据基础。