O'LCHASH JARAYONLARI VA TIZIMLARINI BOSHQARISHDA SUN'IY INTELLEKT TEXNOLOGIYALARINI QO'LLASH

Ushbu maqolada sun'iy intellekt (SI) texnologiyalarining o'lchash jarayonlari va metrologik tizimlarni boshqarishdagi qo'llanilishi ilmiy adabiyotlarning tahliliy sharhi asosida yoritilgan. An'anaviy GUM (Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement) yondashuvining cheklovlari va uning SI asosida kengaytirilgan muqobil usullari ko'rib chiqilgan. Neyron tarmoq arxitekturalari (CNN, LSTM, GNN, BNN, PINN), Bayes yondashuviga asoslangan noaniqlikni miqdoriy baholash, virtual metrologiya, raqamli egizak va ko'p sensor ma'lumotlarini birlashtirish texnologiyalarining o'lchash tizimlariga integratsiyalashuv masalalari tahlil qilinadi. Mualliflar tomonidan o'lchov noaniqligini aleatorik va epistemik komponentlarga ajratishni GUM tasnifi bilan bog'lovchi ifoda hamda SI texnologiyalarini o'lchash tsikli bosqichlari bo'yicha tartiblashtiruvchi tasnif taklif etiladi. Tahlil qilingan manbalarda keltirilgan natijalar SI asosidagi yechimlar o'lchov aniqligi, namunalash samaradorligi va jarayon nazorati sifatini sezilarli oshirishi mumkinligini ko'rsatadi.