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无损检测仪和扫描探针显微成像仪测试数据

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本课题针对复合材料无损检测应用需求,搭建太赫兹阵列成像无损检测仪应用示范样机,开发数据采集与控制软件,突破多通道同步接收模块设计、多仪器设备逻辑控制等关键技术,实现多通道可变分辨率采集卡在太赫兹无损检测仪器中的应用。针对半导体、生物组织等应用需求,搭建扫描探针近场显微成像仪应用示范样机,开发对应的数据采集与控制软件,突破近场微弱散射信号检测、近场扫描精确控制等关键技术,实现多通道可变分辨率采集卡在扫描探针显微成像仪器中的应用。主要对无损检测仪控制软件、无损检测仪接收通道数、无损检测仪检测材料类型、扫描探针显微成像仪控制软件、扫描探针显微成像仪成像分辨率、扫描探针显微成像仪检测材料类型等指标进行测试。

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无损检测仪和扫描探针显微成像仪测试数据 数据集图片
背景与挑战
背景概述
该数据集包含针对复合材料无损检测的太赫兹阵列成像无损检测仪应用示范样机测试数据,以及针对半导体、生物组织等应用的扫描探针近场显微成像仪测试数据。它涉及多通道同步接收、近场微弱信号检测等关键技术突破,并对仪器控制软件、检测材料类型等指标进行了测试。
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