极低温下单量子比特工作性能相干时间数据库

本数据为自主产生/采集；数据来源于公司工程师交互数据，编程代码和文档，量子计算公开专业书籍，采集的方法为通过工程师记录，公司的文档，代码获取。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集是一个专注于极低温条件下单量子比特工作性能的数据库，包含201条由本源量子计算科技公司自行生产的相干时间测量数据。它记录了不同芯片版图在特定测控平台和封装类型下的多个量子比特相干时间，主要用于支持量子芯片设计验证和版图优化，通过反馈测试数据以提高新一代设计的相干时间和稳定性。