Supplementary Information
收藏DataCite Commons2026-05-13 更新2026-05-16 收录
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资源简介：
Material characterization of PECVD-Ge amd sputtered Ge films: GI-XRD, AFM, SEM and EDAX; Calculation of carrier mobility
提供机构：
AIP Publishing
创建时间：
2026-05-13
