X-Ray Fluorescence and Reflectography Data from Hamburg, Staats- und Universi...

XRF (ARTAX: 50kV, 600 µA, linescans of 10 to 26 points of 20s each) and reflectography (DinoLite: x50 magnification under vis, NIR and UV light) analysis of manuscripts...针对手抄本开展的X射线荧光光谱（XRF）分析与反射成像分析：其中X射线荧光光谱分析采用ARTAX设备，参数设置为50kV、600μA，包含10至26个线扫描测点，每个测点的采集时长为20秒；反射成像分析采用迪诺利特（DinoLite）设备，在可见光、近红外（Near-Infrared，NIR）与紫外（Ultraviolet，UV）光下实现50倍放大倍率的观测。