Voltage experiments of CSOI-SRAM devices and simulation data
收藏科学数据银行2025-03-17 更新2026-04-23 收录
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资源简介：
This dataset includes heavy-ion irradiation experiments and TCAD simulation analysis data for the core voltage and the back-gate bias of the CSOI-SRAM device.
提供机构：
姚立文; 赵培雄; 刘杰
创建时间：
2025-03-11
