Voltage experiments of CSOI-SRAM devices and simulation data

Name: Voltage experiments of CSOI-SRAM devices and simulation data
Creator: 姚立文; 赵培雄; 刘杰
Published: 2025-03-11T00:00:00+08:00

科学数据银行2025-03-17 更新2026-04-23 收录

半导体器件抗辐照

TCAD仿真验证

数据链接：

https://www.scidb.cn/detail?dataSetId=4c6138cf64834e399a7cbbe3e98293a5 数据链接链接失效反馈

官方服务：

资源简介：

This dataset includes heavy-ion irradiation experiments and TCAD simulation analysis data for the core voltage and the back-gate bias of the CSOI-SRAM device.

提供机构：

姚立文; 赵培雄; 刘杰

创建时间：

2025-03-11

Voltage experiments of CSOI-SRAM devices and simulation data

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