ADC芯片设计、AFE及多传感器模组设计及可靠性、ADC芯片测试、AFE及多传感器模组测试数据集
收藏国家基础学科公共科学数据中心2026-01-30 收录
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资源简介：
ADC芯片设计、AFE及多传感器模组设计及可靠性等文档来源于设计开发过程；ADC芯片测试、AFE及多传感器模组测试数据来源于研究过程中测试标定的试验数据及第三方测试、专家见证等。包含ADC芯片设计文档；AFE及多传感器模组结构、工艺、可靠性文档；ADC芯片测试过程数据；ADC芯片第三方测试数据；AFE及多传感器模组过程测试数据；AFE及多传感器模组第三方测试及专家见证数据。
提供机构：
华东光电集成器件研究所
