光学膜批次质量风险暴露与不良根因分析数据集

该数据集记录了光学膜（扩散、反射、复合膜）生产过程中的批次质量检验数据，涵盖原材端6类缺陷（白点、黑点、涂布不良、白团、横纹、划伤）与制程端4类缺陷（折伤、划伤、裁切不良、脏污）的原始不良记录，以及面积、良品率等基础指标。数据集通过5列中间量（原材/制程不良合计、总不良合计）与4列加工成果实现智能分析：不良根因贡献度比量化原材与制程的结构占比（1.0为纯原材、0为纯制程、-1为零缺陷）；不良根因智能诊断基于贡献度比、集中度阈值（70%）及良品率等级（<0.97严重/0.99轻微）输出根因定位与整改建议；批次质量风险暴露指数以ln(数量)×(1-良品率)×√单片面积×10000度量三维风险；不良分布集中度熵值采用香农熵评价多因素并存程度。数据集适用于供应商质量追溯、机台工艺优化、来料检验策略调整等场景。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集记录光学膜（扩散、反射、复合膜）生产过程中的批次质量检验数据，涵盖原材端6类与制程端4类缺陷的原始记录及面积、良品率等基础指标。数据集通过5列中间量与4列加工成果实现不良根因贡献度比、智能诊断、批次质量风险暴露指数及不良分布集中度熵值等分析，适用于供应商质量追溯、机台工艺优化与来料检验策略调整等场景。