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仿真平台高良率分析接口测试数据

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仿真平台高良率分析接口测试数据主要面向高良率分析函数接口测试需求,包含28nm、55nm,超十万设计变量的SRAM电路网表,仿真模型(HSPICE格式),进行高良率分析的配置cfg文件,使用ALPS的高良率仿真接口命令mpirun所得到的结果目录,其中包含仿真log文本。

搜集汇总
数据集介绍
仿真平台高良率分析接口测试数据 数据集图片
背景与挑战
背景概述
该数据集服务于仿真平台高良率分析函数的接口测试,提供了28nm与55nm工艺下超过十万设计变量的SRAM电路网表、HSPICE格式仿真模型、高良率分析配置文件,以及通过ALPS仿真接口命令mpirun输出的结果目录(含仿真日志文本),总计1374个文件、36.37GB数据。
以上内容由遇见数据集搜集并总结生成
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