Temperature and stress induced structural changes in semiconductor Ta2NiS5
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https://doi.esrf.fr/10.15151/ESRF-DC-1511921487
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资源简介：
We study the crystal structure of Ta2NiS5 on cooling without applied stress, and under tensile stress at low temperature.
提供机构：
European Synchrotron Radiation Facility
创建时间：
2024-02-09
