Badanie własności optycznych nowoopracowanych nanomateriałów bazujących na heterozłączu SnO2/SeO2

Celem badań była analiza zależności łączących strukturę i morfologię nowoopracowanych nanostruktur bazujących na heterozłączu SnO2/SeO2 z ich własnościami optycznymi. Nanostruktury heterozłączowe wytworzono dwuetapowo. W pierwszej kolejności metodą elektroprzędzenia z roztworu przygotowano nanowłókniste maty PVP/SnCl4/SeCl4. Maty umieszczono w piecu i poddano kalcynacji w temperaturze 500 lub 600°C, kolejno scharakteryzowano je pod kątem morfologii, struktury, składu chemicznego i własności optycznych.Zbiór danych zawiera następujące pliki:SEM_PVP_01 oraz SEM_PVP_02 - 2 obrazy SEM morfologii nanowłókien PVP/SnCl4/SeCl4SEM_SnO2_SeO2_500_01, SEM_SnO2_SeO2_500_02, SEM_SnO2_SeO2_500_03 - 3 obrazy SEM morfologii nanowłókien SnO2/SeO2 po kalcynacji w temperaturze 500°CSEM_SnO2_SeO2_600_01, SEM_SnO2_SeO2_600_02 - 2 obrazy SEM morfologii nanowłókien SnO2/SeO2 po kalcynacji w temperaturze 600°CEDS_SnO2_SeO2_500 - analiza składu chemicznego metodą EDS nanowłókien SnO2/SeO2 po kalcynacji w temperaturze 500°CEDS_SnO2_SeO2_600 - analiza składu chemicznego metodą EDS nanowłókien SnO2/SeO2 po kalcynacji w temperaturze 600°CHistogram_PVP - histogram pięćdziesięciokrotnego pomiaru średnicy losowo wybranych nanowłókien PVP/SnCl4/SeCl4Histogram_500 - histogram pięćdziesięciokrotnego pomiaru średnicy losowo wybranych nanowłókien SnO2/SeO2 po kalcynacji w temperaturze 500°C Histogram_600 - histogram pięćdziesięciokrotnego pomiaru średnicy losowo wybranych nanowłókien SnO2/SeO2 po kalcynacji w temperaturze 500°CTGA_PVP - wykres analizy termograwimetrycznej TGA nanowłókien PVP/SnCl4/SeCl4TEM_SnO2_SeO2_500_BF_02, TEM_SnO2_SeO2_500_DF_01, TEM_SnO2_SeO2_500_DF_02, TEM_SnO2_SeO2_500_BF_01 - 4 obrazy TEM morfologii nanowłókien SnO2/SeO2 po kalcynacji w temperaturze 500°CTEM_SnO2_SeO2_600_BF_01, TEM_SnO2_SeO2_600_DF_01 - 2 obrazy TEM morfologii nanowłókien SnO2/SeO2 po kalcynacji w temperaturze 600°CUV-VIS_ABS_SnO2_SeO2_500_600 - widmo UV-Vis nanowłókien SnO2/SeO2 po kalcynacji w temperaturze 500 i 600°CUV-VIS_Eg_SnO2_SeO2_500 - wykres Tauca przedstawiający wyznaczanie szerokości przerwy energetycznej Eg nanowłókien SnO2/SeO2 po kalcynacji w temperaturze 500°CUV-VIS_Eg_SnO2_SeO2_600 - wykres Tauca przedstawiający wyznaczanie szerokości przerwy energetycznej Eg nanowłókien SnO2/SeO2 po kalcynacji w temperaturze 600°C XPS_SURVEY_SnO2_SeO2_500, XPS_Sn_3d_SnO2_SeO2_500, XPS_O_1s_SnO2_SeO2_500, XPS_Se_3d_SnO2_SeO2_500 - 4 widma XPS składu chemicznego powierzchni nanowłókien SnO2/SeO2 po kalcynacji w temperaturze 500°C metodą XPSXPS_SURVEY_SnO2_SeO2_600, XPS_Sn_3d_SnO2_SeO2_600, XPS_O_1s_SnO2_SeO2_600, XPS_Se_3d_SnO2_SeO2_600 - 4 widma XPS składu chemicznego powierzchni nanowłókien SnO2/SeO2 po kalcynacji w temperaturze 600°C metodą XPS XRD_SnO2_SeO2_500_600 - wykres przedstawiający dyfraktogramy rentgenowskie XRD nanowłókien SnO2/SeO2 po kalcynacji w temperaturze 500 i 600°CDane stanowią dobrą bazę do analizy własności fizykochemicznych nanostruktur bazujących na wieloskładnikowych heterozłączach półprzewodnikowych.