NEUTRON-INDUCED EFFECTS ON MODERN COMPUTING SYSTEMS
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We intend to measure the Single Event Effects in state-of-the-art advanced systems like FPGAs, measuring the ISIS neutron-induced error rate on the configuration memory and...
本研究旨在测量前沿先进系统中的单粒子效应（Single Event Effects），例如现场可编程门阵列（Field-Programmable Gate Array, FPGAs），同时测量ISIS中子诱发的配置存储器错误率，以及……
