芯片技术规格相关指标测试数据

本数据集为国家重点研发计划课题 “高灵敏宽动态 CMOS 图像传感器研究”（课题编号：2022YFB3205102）的核心测试数据，聚焦芯片关键技术规格指标，包含分辨率、帧频及工作温度范围的中期测试、结项测试与期间自测数据及图像。数据采集于 2024 年 5 月至 2025 年 10 月，严格依据 EMVA1288 标准及 GB/T 43063-2023 国标执行，通过标准化测试流程保障数据可靠性。数据集以.xlsx 格式存储，总数据量 407MB，可完全共享，为 CMOS 图像传感器领域的技术研发、性能验证及行业标准优化提供高质量数据支撑，具有重要的工程应用与学术参考价值。