p型氧化镓霍尔测试数据集
收藏国家基础学科公共科学数据中心2026-03-28 收录
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依据 GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法,基于第三方机构“中国计量科学研究院”的霍尔效应测试仪产生,主要记录了p型氧化镓的载流子浓度测量值、载流子浓度平均值、载流子浓度极差等观测值,数据量3.02MB。该数据集为深入理解氧化镓中p型掺杂与受主激活机理提供了实验依据,同时为氧化镓双极型器件的材料设计与性能优化奠定了重要的数据基础。
提供机构:
复旦大学搜集汇总
数据集介绍

背景与挑战
背景概述
该数据集依据GB/T 4326-2006标准,利用霍尔效应测试仪测量p型氧化镓样品,记录了载流子浓度及其平均值、极差等观测数据。数据集旨在支撑氧化镓中p型掺杂与受主激活机理的研究,并为氧化镓双极型器件的材料设计与性能优化提供实验数据基础。
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