片上集成窄线宽激光器检测数据集

2022YFB2803200-001片上集成窄线宽激光器检测数据集，提供项目课题一研制的片上集成窄线宽激光器第三方测试报告、测试时原始数据图和原始数据，数据为2025年12月3日，在中国科学院半导体研究所，由泰尔实验室根据经过专家评审的测试大纲开展测试。主要引用的测试标准有“GB/T31359-2015半导体激光器测试方法”和“Q/KB60107-2021半导体光电模块NLL5520D型1550nm超窄线宽激光器详细规范”。