轴承套圈滚道的材料去除机理
收藏国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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探究了不同氧化剂、络合剂、缓蚀剂对轴承套圈滚道宏观抛光的影响规律,并结合电化学、AFM原子力显微镜、EDS、SEM、TEM等微观分析手段为宏观抛光规律研究提供理论指导,宏观抛光规律反过来不断明确细化微观分析重点,两者相互反馈优化,最终揭示轴承套圈滚道表面材料的去除机理。
提供机构:
西南交通大学搜集汇总
数据集介绍

背景与挑战
背景概述
该数据集聚焦于轴承套圈滚道的材料去除机理,通过研究氧化剂、络合剂和缓蚀剂对宏观抛光的影响,并结合电化学、AFM、EDS、SEM、TEM等微观分析技术,揭示了表面材料的去除规律。研究采用宏观与微观相互反馈优化的方法,为轴承钢抛光液的应用提供理论指导。
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