PAM4 LDD和TIA芯片电接口插损数据集
收藏国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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资源简介：
电接口插损是是5G光传输的核心电芯片中的一个重要性能参数，电插损数据基于误码仪、光功率计等设备搭建的电接口插损测试系统产生，主要记录光纤两端光功率，通过调节光纤上的损耗，在保证光功率之差为30 dB的前提下，记录了误码率。
提供机构：
华中科技大学
