X-Ray Fluorescence and Reflectography Data from Milan, Ambrosian Library, Ms ...
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XRF (Elio: 40kV, 80 µA, spot measurements of 120s each) and reflectography (DinoLite: x50 magnification, vis, NIR and UV light) analysis of inks from Milan, Ambrosian...
针对米兰安布罗西亚纳馆藏墨迹开展的X射线荧光光谱（XRF）与反射成像分析：其中X射线荧光光谱测试采用Elio设备，参数设置为40kV、80µA，单点测量时长120秒；反射成像分析使用DinoLite设备，放大倍率为50倍，覆盖可见光（vis）、近红外（NIR）与紫外（UV）光波段……
