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薄膜芯片与多芯光纤的耦合第三方测试数据

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国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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https://www.nbsdc.cn/general/dataDetail?id=64edc8cebb16e07753c35646&type=1
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资源简介:
本数据集主要面向硅铌酸锂芯片与多芯光纤耦合研究,对应项目任务书指标3.2,采用六维精密耦合位移台、光功率计等仪器,在第三方机构广州赛西标准检测研究院有限公司的相关工作人员在场开展测试,记录了硅铌酸锂芯片和多芯光纤耦合过程的测试值,文件夹总大小5.5MB。
提供机构:
国家基础学科公共科学数据中心
搜集汇总
数据集介绍
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背景与挑战
背景概述
该数据集提供了硅铌酸锂芯片与多芯光纤耦合的第三方测试结果,对应项目任务书指标3.2,采用六维精密耦合位移台和光功率计等设备,在广州赛西标准检测研究院有限公司进行测试并记录相关数据,总大小为5.5MB。
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