CdZnTe像素探测器边缘效应的影响研究数据集

本数据集旨在研究并抑制CdZnTe像素探测器的边缘效应对性能的影响，服务于高均匀性、大面积拼接探测器的研制。数据同样基于GEANT4和COMSOL仿真平台产生，聚焦于探测器边缘及拼接界面的精细化建模。主要内容包括不同边缘结构、保护环设计及拼接方案下的边缘电场畸变、权重势分布、载流子收集效率的模拟数据，以及由此导致的边缘像素能谱性能劣化数据。该数据集为开发有效的边缘效应控制方法提供了关键分析基础，数据量约200MB。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集聚焦于CdZnTe像素探测器的边缘效应研究，旨在通过仿真模拟抑制其对性能的影响，以支持高均匀性、大面积拼接探测器的开发。数据基于GEANT4和COMSOL平台生成，涵盖不同边缘结构、保护环设计和拼接方案下的电场畸变、权重势分布及载流子收集效率等关键模拟结果，为边缘效应控制方法提供了分析基础。