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Welch’s t-test based on the AE error between 260-350 nm.
Welch’s t-test based on the AE error between 260-350 nm.
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NIAID Data Ecosystem
2026-05-02 收录
光谱测量误差分析
韦尔奇t检验应用
数据链接:
https://figshare.com/articles/dataset/Welch_s_t-test_based_on_the_AE_error_between_260-350_nm_/25830570
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资源简介:
Welch’s t-test based on the AE error between 260-350 nm.
应用场景:
创建时间:
2024-05-15
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